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克列茨kyoritsu共(gong)立數(shu)字絕(jue)緣高壓(ya)搖表(biao)兆(zhao)歐表(biao) ? 絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試最大可(ke)達1TΩ ? 短路電(dian)流可(ke)達1.5mA ? 測(ce)試電(dian)壓(ya)范圍為(wei)250V-5000V ? PI和DAR的(de)(de)(de)診斷功(gong)(gong)能(neng) ? 采(cai)用最新設(she)計(ji)的(de)(de)(de)鱷魚夾 ? 配備(bei)了堅固(gu)的(de)(de)(de)便(bian)攜箱(xiang) ? 濾波功(gong)(gong)能(neng)可(ke)減少噪音(yin)干擾而有(you)利(li)于穩定(ding)測(ce)試 ? 可(ke)顯示條形(xing)圖的(de)(de)(de)大顯示屏具有(you)背光功(gong)(gong)能(neng) ? 通電(dian)回路警告功(gong)(gong)能(neng) ? 設(she)計(ji)符(fu)合國際安全規格 IEC 61010-1 CAT IV 3

midi LOGGER GL220采(cai)用小型、可(ke)放心測定的(de)全(quan)頻道絕緣輸入方式。可(ke)進行(xing)電壓/溫(wen)度/濕度/脈(mo)沖/邏輯的(de)多元輸入。 根據客戶要求提供多種(zhong)高速(su)電壓測定，可(ke)測定范圍擴展至10ms取樣（電壓范圍1ch輸入時）。 此外，內置(zhi)存(cun)儲器中搭載2GB大容量閃(shan)存(cun)，無(wu)需使用外部存(cun)儲媒體即可(ke)實現長時間的(de)數據収(shou)錄。 GL220提高了可(ke)對應(ying)多樣化測量用途的(de)功(gong)能性與操作性,從研究開發(fa)到(dao)生產線現場，可(ke)1人1臺進行(xing)使

&采(cai)用(yong)WINDOWS操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)系(xi)統(tong)，操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)更方便(bian)。 &智能化、數字化、全(quan)中(zhong)文操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)菜單(dan)、準確測(ce)量(liang)、操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)簡便(bian)； 　&重量(liang)輕(qing)，手(shou)持設計，單(dan)人操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)，全(quan)程自動測(ce)量(liang)； &大容量(liang)存儲，歷(li)史數據(ju)自動匯集，隨(sui)時查詢； &測(ce)試(shi)(shi)夾（棒）可(ke)選，適應各種電池(chi)檢測(ce) &4.3英寸LCD顯示(shi)，中(zhong)文界面，觸屏操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)，使用(yong)簡便(bian)； &直(zhi)流大電流測(ce)試(shi)(shi)，抗(kang)干擾，測(ce)試(shi)(shi)更準確； &USB接口(kou)數據(ju)拷貝(bei)、INTERNET接口(kou)遠程系(xi)統(tong)升級

SDY-5型雙電測(ce)四(si)探針(zhen)測(ce)試(shi)儀采(cai)用(yong)了(le)四(si)探針(zhen)雙位(wei)組合測(ce)量技術,利用(yong)電流探針(zhen)、電壓探針(zhen)的(de)變換，進行兩次電測(ce)量，能自(zi)動(dong)消除(chu)樣品幾何尺寸、邊界(jie)效應以及探針(zhen)不等(deng)(deng)距(ju)和機械游(you)移等(deng)(deng)因素對測(ce)量結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響，從而提高了(le)測(ce)量結(jie)果(guo)的(de)準確度

RTS-5型(xing)雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)(ce)四(si)探(tan)(tan)針(zhen)測(ce)(ce)(ce)試儀采用了(le)四(si)探(tan)(tan)針(zhen)雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)(ce)組合(亦稱雙(shuang)(shuang)位組合)測(ce)(ce)(ce)量(liang)新技(ji)術(shu),將范德堡測(ce)(ce)(ce)量(liang)方(fang)法推廣應用到直線四(si)探(tan)(tan)針(zhen)上,利用電流(liu)探(tan)(tan)針(zhen)、電壓(ya)探(tan)(tan)針(zhen)的(de)變換，在(zai)計(ji)算機控制(zhi)下進行(xing)兩(liang)次電測(ce)(ce)(ce)量(liang)，能自動消除樣品幾何尺寸(cun)、邊界效應以及探(tan)(tan)針(zhen)不(bu)等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因素(su)對測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果(guo)的(de)影響。

RTS-9型雙電(dian)(dian)測(ce)(ce)四(si)(si)探(tan)針測(ce)(ce)試(shi)儀采用了四(si)(si)探(tan)針雙電(dian)(dian)測(ce)(ce)組(zu)(zu)合(亦稱雙位(wei)組(zu)(zu)合)測(ce)(ce)量(liang)新(xin)技(ji)術,將范德堡測(ce)(ce)量(liang)方(fang)法推廣應用到直線(xian)四(si)(si)探(tan)針上,利用電(dian)(dian)流探(tan)針、電(dian)(dian)壓探(tan)針的變換，在計算機(ji)控制下進(jin)行兩次電(dian)(dian)測(ce)(ce)量(liang)，能自動消(xiao)除樣品幾何尺寸(cun)、邊界效應以及探(tan)針不(bu)等距和(he)機(ji)械(xie)游移等因(yin)素對測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)的影(ying)響。

RTS-3型手持式四探(tan)針測(ce)(ce)(ce)試儀是運用四探(tan)針測(ce)(ce)(ce)量(liang)原理的多用途綜(zong)合測(ce)(ce)(ce)量(liang)設備。該(gai)儀器按照單晶硅(gui)物(wu)理測(ce)(ce)(ce)試方法國家標(biao)準并參考(kao)美國 A.S.T.M 標(biao)準而(er)設計的，于測(ce)(ce)(ce)量(liang)硅(gui)晶塊、晶片電阻率(lv)及擴散層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導電箔膜、導電橡膠(jiao)等材料(liao)方塊電阻的小(xiao)型儀器。

RTS-2/RTS-2A型便攜式四(si)探針測試儀(yi)是運用四(si)探針測量原理(li)的(de)多用途綜合測量設備(bei)。該儀(yi)器按照單(dan)晶(jing)(jing)硅物(wu)理(li)測試方法國家標準并參(can)考美國 A.S.T.M 標準而(er)設計的(de)，于(yu)測量硅晶(jing)(jing)塊(kuai)(kuai)、晶(jing)(jing)片電阻(zu)率(lv)及(ji)擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊(kuai)(kuai)電阻(zu)的(de)小型儀(yi)器。

SDY-4型四探針測(ce)試儀(yi)(yi)是根據單(dan)晶硅物理測(ce)試方法國家(jia)標準(zhun)并參考(kao)美國A.S.T.M標準(zhun)設計的半導體材(cai)料(liao)電阻率(lv)及方塊電阻(薄層電阻)測(ce)試儀(yi)(yi)器.